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最近,國家藥品監督管理局發(fā)布了《2021年國家醫療器械抽檢產(chǎn)品檢驗方案》。方案里面對于醫用防護口罩、醫用外科口罩、一次性醫用口罩檢測提出了完整的抽檢方案。眾所周知,抽檢是國家行使監督管理,敦促企業(yè)保證產(chǎn)品質(zhì)量的重要手段之一。為了方便企業(yè)了解國家對此次醫用口罩的抽檢規定,做好相關(guān)的配合工作。今天就為大家介紹一下相關(guān)問(wèn)題。國家抽檢是嚴格按照《醫療器械監督管理條例》、《醫療器械質(zhì)量抽查檢驗管理辦法》中的相關(guān)
工業(yè)中使用高光面材質(zhì)加工一些平整度較高,且表面要求較高的工件,如手機logo,軍用設備中的導光板等產(chǎn)品,比如說(shuō)屬于鏡面反光的蘋(píng)果LOGO( 本身平整度高,易粘黏油污、手?。┑蔫Υ脵z測。需克服的問(wèn)題反光問(wèn)題:由于材質(zhì)表面光潔度很高,已經(jīng)形成一個(gè)高光鏡面,光源即使在很弱的狀態(tài)下,表面的反光也會(huì )有非常強的對比度,這種對比度會(huì )把表面本身的雜質(zhì)、劃痕、研磨痕等缺陷覆蓋,使得視覺(jué)拍照無(wú)法檢測出零件表面缺陷。倒影問(wèn)題:由于材質(zhì)表面已經(jīng)形成一個(gè)鏡面,
測量重點(diǎn):量測半導體封裝制程上打線(xiàn)的相關(guān)尺寸:球厚度,球大小,弧高,二焊點(diǎn),多芯片,疊芯片解決方案與優(yōu)點(diǎn):1、避免人為量測的誤差2、操作簡(jiǎn)單(可導入CAD檔)3、上傳或追蹤資料方便(可選配SECS功能)4、高重復精度(Z軸 0.5 um, XY 1 um)5、報表格式自定義受到半導體封裝業(yè)者高度認可,全球封裝前三大業(yè)者已有2家導入,批量使用。
三維形貌測量?jì)x選型很重要。那么如何選型了?一,確定測量工件是什么?什么材質(zhì)的,什么形狀的,尺寸多大?二,確定需要測量哪些參數,測量精度多少?三,是否有特殊要求。通過(guò)以上3點(diǎn)基本可以確定三維形貌測量?jì)x的型號和配置了。三維形貌測量?jì)x是一款用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量的檢測儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過(guò)系統軟件對器件表面3D圖像
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